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產品目錄

Product catalog

  • 全自動非接觸晶圓電阻率成像系統
    全自動非接觸晶圓電阻率成像系統
    全自動非接觸晶圓電阻率成像系統,專為半導體行業設計,通過非接觸式渦流技術與光學傳感結合,實現晶圓基板及涂層的全區域表征,核心價值在于保障半導體制造的工藝可靠性與質量管控,廣泛適配 Si、SiC、GaN 等主流及寬禁帶半導體材料,是兼顧高采樣率、高精度與空間優化的一體化檢測解決方案。
    型號:    廠商性質:代理商
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  • 紅外輻射顯微成像系統(微觀溫度分布成像)
    紅外輻射顯微成像系統(微觀溫度分布成像)
    紅外輻射顯微成像系統(微觀溫度分布成像):IRLabs的IREM-IV紅外顯微鏡系統使您能夠更快、更準確、更可靠地進行半導體故障分析和調試。
    型號:    廠商性質:代理商
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  • MMS-1A-RS三維磁場成像測繪系統
    MMS-1A-RS三維磁場成像測繪系統
    MMS-1A-RS三維磁場成像測繪系統是設計用于精確測量呈現軸向和徑向多極磁化的永磁或電磁體設備(如轉子或定子)產生的磁場。
    型號:    廠商性質:代理商
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  • 成像系統.高速熒光壽命(FLIM)顯微成像系統
    成像系統.高速熒光壽命(FLIM)顯微成像系統
    LIFA是一種基于相機的FLIM模塊,用于快速熒光和磷光壽命成像。其完善的頻域檢測技術由Toggel調制相機提供,可實現高精度的壽命圖像近瞬時采集。高速熒光壽命(FLIM)顯微成像系統
    型號:成像系統.    廠商性質:代理商
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