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產(chǎn)品目錄

Product catalog

  • 膜厚測量儀(厚度范圍1nm~1.8mm)
    膜厚測量儀(厚度范圍1nm~1.8mm)
    膜厚測量儀(厚度范圍1nm~1.8mm),只需單擊鼠標(biāo)即可測量 1nm 至 1.8mm 的薄膜厚度。幾乎可以測量任何透明或者半透明薄膜厚度,直觀的設(shè)計(jì)意味著您可以在幾分鐘內(nèi)進(jìn)行一次薄膜厚度測量!
    型號:    廠商性質(zhì):代理商
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  • 表面等離子體共振分析儀(SPR)
    表面等離子體共振分析儀(SPR)
    表面等離子體共振分析儀(SPR),SPR 是一種表面敏感型分析技術(shù),用于化學(xué)和生物化學(xué)傳感。通過檢測傳感器芯片表面層附近折射率的變化來進(jìn)行物質(zhì)分析。
    型號:    廠商性質(zhì):代理商
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  • OZ optics-C波段平坦型ASE模塊
    OZ optics-C波段平坦型ASE模塊
    OZ optics-C波段平坦型ASE模塊,封裝在低高度的 OEM 箱體中,并內(nèi)置驅(qū)動(dòng)器。
    型號:    廠商性質(zhì):代理商
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  • 手持式金屬厚度測試儀
    手持式金屬厚度測試儀
    手持式金屬厚度測試儀, 可用于方塊電阻,方阻測量。非接觸式方塊電阻方阻測量,可替代四探針傳統(tǒng)測量。
    型號:    廠商性質(zhì):代理商
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  • 疊層太陽能電池測試系統(tǒng)(太陽光模擬器)
    疊層太陽能電池測試系統(tǒng)(太陽光模擬器)
    疊層太陽能電池測試系統(tǒng)(太陽光模擬器),內(nèi)置光譜儀和強(qiáng)度傳感器與校準(zhǔn)程序相結(jié)合,使重新校準(zhǔn)非常簡單。
    型號:    廠商性質(zhì):代理商
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  • AUT-XperP-Projector無掩膜智能投影光電流系統(tǒng)
    AUT-XperP-Projector無掩膜智能投影光電流系統(tǒng)
    無掩膜智能投影光電流系統(tǒng)AUT-XperP-Projector,高頻灰度實(shí)現(xiàn)線性可調(diào)的同時(shí)可以快速切換長度,來對整個(gè)陣列的所有器件進(jìn)行激發(fā)。
    型號:AUT-XperP-Projector    廠商性質(zhì):代理商
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  • 同步源測系統(tǒng)RTM2-制樣無需復(fù)雜光刻
    同步源測系統(tǒng)RTM2-制樣無需復(fù)雜光刻
    同步源測系統(tǒng)RTM2-制樣無需復(fù)雜光刻專為自動(dòng)精密測量電阻和相關(guān)量而設(shè)計(jì)。半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2將直流和交流測量與集成開關(guān)矩陣結(jié)合在一起。
    型號:    廠商性質(zhì):代理商
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  • 錐形光纖探針掃描系統(tǒng)
    錐形光纖探針掃描系統(tǒng)
    錐形光纖探針掃描系統(tǒng)GalvoStation是一種單通道光電激光設(shè)備,錐形光纖探針 掃描系統(tǒng)設(shè)計(jì)用于使用Lambda Fibers進(jìn)行空間選擇性光傳輸和收集。GalvoStation允許將Lambda光纖發(fā)出的光限制在其有效長度的子位置。
    型號:    廠商性質(zhì):代理商
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  • 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2-霍爾源測系統(tǒng)
    半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2-霍爾源測系統(tǒng)
    半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2-霍爾源測系統(tǒng)利用半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2的集成開關(guān)矩陣實(shí)現(xiàn)無限的精度和穩(wěn)定性用于片狀、霍爾和電阻張量的測量。
    型號:    廠商性質(zhì):代理商
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  • 時(shí)域熱反射測量系統(tǒng) (TDTR 測試系統(tǒng))
    時(shí)域熱反射測量系統(tǒng) (TDTR 測試系統(tǒng))
    我司新推出的時(shí)域熱反射測量系統(tǒng)可用于測量金屬薄膜、塊體或液體的熱導(dǎo)率、界面熱阻等多項(xiàng)熱物性參數(shù),薄膜測量厚度可達(dá)納米量級!在微納結(jié)構(gòu)新材料的研發(fā)與分析等方面得以越來越廣泛的應(yīng)用。 時(shí)域熱反射測量系統(tǒng) (TDTR 測試系統(tǒng))
    型號:    廠商性質(zhì):代理商
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  • FLIM高效率熒光壽命成像系統(tǒng)
    FLIM高效率熒光壽命成像系統(tǒng)
    高效率熒光壽命成像系統(tǒng)或FLIM是基于熒光樣品中不同區(qū)域的熒光的指數(shù)衰減速率的差異。 由τ決定熒光壽命成像的每個(gè)像素的強(qiáng)度,這使研究 人員可以查看具有不同熒光衰減率的材料之間的對比度,還可以產(chǎn)生顯示其他衰減路徑變化的圖像。
    型號:FLIM    廠商性質(zhì):代理商
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