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  • Timegate時間門控拉曼光譜儀PicoRaman M3
    Timegate時間門控拉曼光譜儀PicoRaman M3
    Timegate時間門控拉曼光譜儀PicoRaman M3，具有多種潛在應(yīng)用。它可以作為實(shí)驗(yàn)室中的經(jīng)典臺式系統(tǒng)使用。但當(dāng)與顯微鏡連接或在帶有板式讀數(shù)器的高通量設(shè)置中使用時，也能取得令人印象深刻的結(jié)果。
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  • 微型布里淵光譜儀
    微型布里淵光譜儀
    微型布里淵光譜儀，ALBA 通過標(biāo)準(zhǔn)單模保偏（SM/PM）光纖實(shí)現(xiàn)光學(xué)連接，兼容傳統(tǒng)光譜儀和顯微鏡，并能輕松集成，通過全光學(xué)、無標(biāo)記的布里淵彈性成像技術(shù)擴(kuò)展其功能，實(shí)現(xiàn)三維力學(xué)分析。
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  • 中紅外光束分析儀
    中紅外光束分析儀
    中紅外光束分析儀借助我們可選的光束輪廓分析軟件，可以立即顯示、導(dǎo)出和保存不同格式的強(qiáng)度分布和輪廓，以便進(jìn)行后續(xù)評估。
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  • quDIS六自由度激光干涉測量系統(tǒng)
    quDIS六自由度激光干涉測量系統(tǒng)
    quDIS六自由度激光干涉測量系統(tǒng)是一種用于校準(zhǔn)和評估各種運(yùn)動系統(tǒng)和機(jī)械的多軸精度的儀器。通常用于制造、機(jī)器人、數(shù)控機(jī)床和坐標(biāo)測量機(jī)等應(yīng)用領(lǐng)域，以保持設(shè)備的精度和可靠性。
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  • 相位偏折測試系統(tǒng)
    相位偏折測試系統(tǒng)
    相位偏折測試系統(tǒng)，是基于相位測量偏折法的高精度 3D 表面檢測方案，覆蓋平面、曲面、多件并行與機(jī)器人引導(dǎo)等場景，單次測量即可完成形狀偏差與表面缺陷檢測，適配汽車、3C、半導(dǎo)體等行業(yè)的微米級質(zhì)量控制。
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  • AR近眼顯示測試系統(tǒng)AUS-6100-AR70L
    AR近眼顯示測試系統(tǒng)AUS-6100-AR70L
    AR近眼顯示測試系統(tǒng)AUS-6100-AR70L系統(tǒng)核心功能包括測量亮度、色度、對比度、視場角（FOV）和眼盒（eye-box）等關(guān)鍵參數(shù)，同時評估圖像均勻性、畸變、清晰度（如調(diào)制傳遞函數(shù)，MTF）、漏光/鬼影以及雙目融合/視差，這些指標(biāo)直接影響圖像質(zhì)量和視覺舒適度。?
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  • 高性價比干涉式激光尺
    高性價比干涉式激光尺
    高性價比干涉式激光尺摒棄了傳統(tǒng)激光干涉儀的分立光學(xué)器件結(jié)構(gòu)，將激光器、調(diào)制器、光電探測器和濾波器等眾多光學(xué)元件集成至單一光學(xué)芯片上，并與激光二極管、探測器陣列和光學(xué)透鏡結(jié)合，形成小型化的激光傳感模組。
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  • H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀
    H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀
    Heliotis H9/H9M 均為工業(yè)級白光干涉（WLI）3D 表面輪廓儀，基于低相干寬帶光在零光程差附近形成高對比度條紋，通過 Z 軸掃描與像素級相干峰 / 相位解包裹重構(gòu) 3D 形貌，實(shí)現(xiàn)非接觸、納米級精度測量。H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀
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  • IQFROG超短脈沖分析儀
    IQFROG超短脈沖分析儀
    IQFROG超短脈沖分析儀（高靈敏性，光纖耦合輸入）是基于頻率分辨光學(xué)開關(guān)技術(shù)（FROG）實(shí)現(xiàn)對脈沖激光在時域和頻域的強(qiáng)度和相位測量，從而實(shí)現(xiàn)對脈沖激光信號的精確表征。IQFROG超短脈沖測量儀配有大形成電動延時平臺和高分辨率光譜儀，可實(shí)現(xiàn)up to 50ps脈寬的啁啾脈沖測量;對于傅里葉極限脈寬，其脈寬可測范圍能覆蓋0.3-10ps。
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  • TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）
    TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）
    Polytec GmbH提供完整的光學(xué)表面計(jì)量解決方案，用于工程表面質(zhì)量檢測和形狀評估 - 無論是數(shù)控加工精密零件的平面度或臺階高度、光滑光學(xué)元件的翹曲和形狀，還是紋理、光潔度或 MEMS 和微結(jié)構(gòu)分析。TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀）
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  • TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）
    TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）
    Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab，是一款高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），以其大垂直測量范圍與納米級分辨率脫穎而出。這一特性，使得 Metro.Lab 形貌測量系統(tǒng)在針對大面積表面及結(jié)構(gòu)的平面度、臺階高度和平行度進(jìn)行非接觸式測量時表現(xiàn)好，哪怕面對柔軟嬌貴、極易受損的材料，也能精準(zhǔn)探測，毫無壓力。TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀）
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  • 新一代便攜式色彩測量儀（測色儀）
    新一代便攜式色彩測量儀（測色儀）
    一般的便攜式色彩測量儀器通常能滿足大多數(shù)要求，但其性能往往參次不齊。獨(dú)立式分光光度儀已成為昨日黃花，既無法您進(jìn)入色彩測量的未來，也不能確保質(zhì)量，但全新新一代便攜式色彩測量儀（測色儀）的亮相令人為之側(cè)目。
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